시험 설정, 실행 및 분석 시간 절감

별도의 테스트 프로그램을 작성하지 않고도 테스트를 간단하고 빠르게 설정하고 실행합니다. DAQ6510 데이터 획득 및 로깅 멀티미터 시스템의 이해하기 쉬운 터치스크린은 문제를 조기에 발견하여 테스트 시간을 놓치지 않고 테스트 데이터를 쉽게 분석할 수 있또록 시각적이고 이해하기 쉬운 시험 설정, 스캔 상태에 대한 실시간 시각화로 간단한 구성을 제공합니다.

주요 특징

• 구성 : 한 개의 측정 및 스캔 구성 메뉴를 사용하여 여러 측정 기능으로 다중 채널 스캔을 설정합니다.
• 실행 및 모니터링 : 테스트 도중 스캔 과정을 표시하여 범위를 벗어난 측정 및 초과된 한계를 바로 나타냅니다.
• 분석 : 도표 작성 및 통계 기능을 사용하여 결과를 표시하고 분석합니다. 터치스크린의 터치식 줌 기능을 사용하여 결과를 자세히 연구합니다. 커서를 사용하여 데이터 세그먼트에 대한 통계를 계산합니다.

 광범위한 측정

DAQ6510은 6½ Digits 분해능과 15 내장 측정 기능을 사용하여 측정하도록 작성되었습니다. 저전류, 낮은 저항 및 온도를 측정하고, 내장 디지타이저로 전송 신호를 확인합니다.

주요 특징

• 전압 : 100nV ~ 1000V (0.0025% 기본 DCV 정확도 제공)
• 전류 : 1pA ~ 3A
• 저항 : 1µΩ ~ 120MΩ
• 커패시턴스 : 0.1pF ~ 100µF
• 서모커플(Thermocouple), 저항 온도 감지기 및 -200℃ ~ +1820℃의 서미스터로 온도 측정
• 초당 1M 샘플, 7백만 판독 값 스토리지를 제공하는 16비트 디지타이저
• 12개의 플러그인 스위치 모듈과 최대 80 채널 테스트 시스템에 대한 추가 옵션 제공

 테스트 시간 단축

최소 시간에 수집된 데이터의 양을 최대화합니다. 보다 빠르게 측정하고, 채널을 빠르게 전환하며, 더 많은 채널을 스캔합니다.

주요 특징

• 측정 시간이 0.0005 파워라인 사이클 또는 60Hz(50Hz) 파워라인당 8.3㎲(10㎲)만큼 짧습니다.
• 솔리드 스테이트 멀티플렉서 플러그인 스위치 모듈로 초당 800채널의 속도로 스캔합니다.
• 한 번의 테스트에서 통계적으로 의미 있는 DUT 수를 테스트하기 위해 최대 80채널 2극을 스캔합니다.

 DUT에 빠르고 안전하게 연결

DAQ6510은 대부분의 해당 플러그인 스위치 모듈에서 일괄 중단된 D 하위 연결로 테스트를 시작하기 전에도 효율적으로 진행할 수 있게 해 줍니다. 따라서 시스템 유지 관리 중에 플러그인 스위치 모듈을 변경할 때 또는 새 테스트 시스템을 설정할 때 다운 타임을 최소화합니다.

 완전한 인터페이스 옵션 세트 중에서 선택

표준 LAN, LXI 및 USB 인터페이스를 통해 테스트 시스템에 쉽게 통합할 수 있습니다. 옵션 현장 설치 가능한 GPIB 및 RS-232 인터페이스에 직접 장비간 동기화와 통신을 위한 6개의 디지털 I/O 포트가 포함되어 있습니다.

DAQ6510은 선택한 모든 PC 인터페이스에서 쉽게 사용할 수 있습니다.

 KickStart 데이터 획득 애플리케이션으로 고속 PC 자동화

KickStart 장비 제어 소프트웨어를 사용하여 PC에서 데이터 획득 테스트를 빠르게 프로그래밍 할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 프로그래밍이 필요하지 않으며, 메뉴 화면을 사용하여 시험 설정을 입력하면 됩니다. 그런 다음 결과를 표 형식과 그래프 형식으로 시각화 합니다.

 안정적으로 환경 테스트 및 수명 테스트 수행

터치 스크린 화면을 사용하여 빠르게 테스트를 설정합니다. 테스트 진행 중에 테스트 상태를 모니터링합니다. 터치 스크린 화면에서 그래픽 또는 표 형식의 데이터를 봅니다.

주요 특징

• 단일 DAQ6510 메인프레임을 사용한 한 번의 설정에서 최대 80개 장치를 테스트 합니다.
• 여러 DAQ6510 메인프레임을 연결하고 제어하려면 필요에 따라 TSP-Link® 인터페이스를 사용하여 더 많은 채널로 확장합니다.
• 8가지 서모커플(Thermocouple) 유형, 5개의 다른 RTD 또는 3개의 다른 서미스터로 -200℃ ~ +1820℃ 범위에 대한 온도를 모니터링합니다.
• 문제가 발생했으르 때 즉시 확인할 수 있또록 테스트 중에 모니터링할 한계를 설정하고 중요 채널을 정의합니다.
• 외부 USB 드라이브 또는 PC에 테스트 데이터를 저장하여 중요한 데이터가 손실되지 않도록 합니다.
• 저녁 및 주말에 놓친 테스트 시간을 최소화하기 위해 전원이 손실되면 바로 다시 시작하도록 DAQ6510을 프로그래밍합니다.

 비용 효율적으로 하위 값 저항 구성 요소 테스트

DAQ6510로 케이블, 낮은 값 레지스터 및 커넥터와 같은 구성 요소를 정확하고 안정적으로 테스트합니다.

주요특징

• 1µΩ  민감도로 측정합니다.
• 4선 저항 기능을 사용하여 테스트 리드선 저항 오류를 방지합ㄴ디ㅏ.
• 오프셋 보정을 사용하여 열 접촉 오류를 방지합니다.

 테스트 용량을 늘리고 제조 시 처리량을 늘립니다.

DAQ6510을 사용하여 단일 테스트 시스템을 사용하는 장치 수를 늘리고 테스트 용량을 최대화합니다. DAQ6510에서 제공하는 빠른 측정 시간 및 빠른 스캔 속도를 이용할 수 있습니다.

주요 특징

• 한 개의 테스트 시스템에 대한 테스트 시스템 용량을 최대 80개 장치로 확장합니다.
• 0.0005 파워라인 사이클 통합 시간으로 빠르게 측정합니다.
• 초당 800개 채널을 처리하는 빠른 속도로 DUT를 통한 고용량 제조 및 스캔에 솔리드 스테이트 릴레이 카드를 사용합니다.
• DAQ6510에서 테스트를 실행하고 제어하도록 하면 DAQ6510의 내부 TSP 프로그램 실행을 사용하여 PC와의 통신 시간을 최소화 할 수 있습니다.