[FLUKE] 첨단 고속 전자 부품 문제 해결
 작성자 : 한국계측기
Date : 2014-06-30 13:17  |  Hit : 11,421  
   fluke-Troubleshooting_HighSpeed_Electronic-e.pdf (1.2M) [108] DATE : 2014-06-30 13:17:35

5GS/s 샘플링, 500MHz 대역폭을 달성한 최초의 휴대용 오실로스코프

전자 기술자와 엔지니어들은첨단 고속 전자부품의 문제를 해결할 여러 가지문제를 마주하게 되며,

이들은 높은 전압과전류 문제를 처리하기위해 지속적으로 노력하고있습니다.

미국 Linamar Advanced Systems Group 수석 엔지니어이자사업부 부장인 Leigh Copp에게서

낮은 주파수 응용분야의 경우 200MHz Fluke 190-204 ScopeMeter® 테스트 장비를 사용하고,

높은 주파수와빠른 상승 시간이필요한 응용 분야의경우는 벤치 오실로스코프로전환함으로써

이러한 문제를해결했다는 이야기를 들었습니다.

이제 Fluke사의 오실로스코프어플리케이션 노트를 통해Linamar Advanced Systems Group사가

 첨단 고속전자 부품 문제문제와 해결 방법을어떻게 찾았는지 확인하세요.

  • 나노초(ns) 이벤트 포착

  • 디퍼런셜 측정 간소화

관련 제품 : FLUKE 190-XXX Series